sem掃描電鏡的分析室滿(mǎn)足了對(duì)元素(EDX，WDS)和晶體學(xué)(EBSD)樣品數(shù)據(jù)日益增長(zhǎng)的需求，該分析室支持多個(gè)EDX檢測(cè)器，以提高通量并消除陰影效應(yīng)。此外，分析室支持共面EDX / EBSD和平行光束WDS，以確保所有技術(shù)的佳定位。由于掃描電鏡的現(xiàn)場(chǎng)能力，即使在絕緣或高溫的樣品上也可以獲得可靠的分析結(jié)果。用于光子學(xué)，地球科學(xué)，陶瓷，玻璃和故障分析應(yīng)用的其他樣品信息來(lái)自*的可伸縮RGB陰極發(fā)光檢測(cè)器。掃描電鏡將廣泛的成像和分析模式與新型先進(jìn)的自動(dòng)化技術(shù)相結(jié)合，可提供同類(lèi)產(chǎn)品中完整的解決方案。它是需要高分辨率，樣品靈活性和易于使用的操作員界面的工業(yè)研發(fā)，質(zhì)量控制和故障分析應(yīng)用的理想選擇。
多用戶(hù)實(shí)驗(yàn)室需要顯微鏡才能在短時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生帶有相關(guān)數(shù)據(jù)的高質(zhì)量圖像。sem掃描電鏡通過(guò)基于四極槍組件的強(qiáng)大成像系統(tǒng)滿(mǎn)足了這一需求，該系統(tǒng)在各種束能量和真空條件下都能提供出色的結(jié)果。在所有這些條件下，地形圖和成分圖都提供了必要的樣本信息。通過(guò)同時(shí)采集，該信息可隨時(shí)用于進(jìn)一步的解釋和分析。
查找感興趣的區(qū)域甚至查找樣品本身可能是一項(xiàng)繁瑣的工作，但在sem掃描電鏡上則并非如此。室內(nèi)導(dǎo)航攝像頭(Nav-Cam)提供了樣品架的詳細(xì)照片，使操作起來(lái)非常容易一個(gè)會(huì)話(huà)中包含多個(gè)樣本，然后一個(gè)個(gè)地導(dǎo)航到它們。在樣本中，只需單擊即可轉(zhuǎn)到感興趣的區(qū)域。導(dǎo)航攝像機(jī)圖像隨樣本一起旋轉(zhuǎn)，因此導(dǎo)航非常直觀。
